苏州英飞思科学仪器有限公司

1号馆｜A056

前沿产品

01 EDX8800M MAX

作为一款高性能的立式X射线荧光（EDXRF）材料分析仪，EDX8800M MAX配置了高功率X射线激发系统，同时搭配了高计数率和高分辨率的FSDD探测器，它提供了出色的线性动态范围，可在金属、水泥、矿物、采矿、玻璃和陶瓷中实现更高精度的过程和质量控制。

产品特点

1、配备Peltier电制冷的FSDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率。

2、能同时进行元素和氧化物成分分析。

3、特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性。可同时选配氦气系统，实现液体和粉末样品的直接测试。

4、八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差。

5、高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位。

6、可搭载样品自旋平台，增加样品检测面积，提高测试准确度和精密度。

02 EDX9000B Plus

EDX9000B plus光谱仪主要应用于采矿作业（勘探、开采、品位控制），工业矿物，生产水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化学学术研究，考古等。EDX9000B plus优异的线性动态范围，可实现在水泥、矿物、采矿、金属、玻璃和陶瓷行业进行超高精度的过程控制和质量控制。

产品特点

1、小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高灵敏度、高精度分析。

2、可同时分析40种元素。

3、采用多准直器多滤光片和扣背景专利技术。

4、 Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率。

5、超高记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统。

6、标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作。

7、专利薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限。

03 EDX9000B

EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：铁矿、铜矿、铝土矿、贵金属矿产、稀土矿、原料、磷酸盐、煤炭、铅锌矿、锰矿、镍矿、石灰石、粘土、石膏、玻璃、土壤、水泥、耐火材料等。

产品特点

1、无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果。

2、强大的基于Windows的FP(基本参数算法)软件降低了基体效应的影响。

3、50 kV光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率;，能同时进行元素和氧化物成分分析。

4、多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控，让仪器工作更稳定、更安全。

04 Compass200

Compass 200能量色散X射线荧光（EDXRF）光谱仪实现了快速、准确分析土壤中的有害金属元素Pb（铅），As（砷），Cd（镉），Hg（汞），Cu（铜），Ni（镍），Zn（锌），Cr（铬）等，能够实时现场对厂区、矿区、重工业区周边的环境进行监测，从而进行控制排放和污染治理。

产品特点

1、便携，坚固，紧凑的设计，轻松实现现场高精度样品无损检测

2、友好的软件界面和一键式启动测试

3、常规分析培训只需几分钟

4、大型8英寸触摸屏上显示的直观界面

5、可选配大容量电池，无需外部供电情况下可实现长时间工作。

05 EDX8000T

镀层测厚仪 EDX8000T 是将 X 射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次 X 射线的 强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的 X 射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时测量时间短，一般在30秒内完成。

产品特点

1、全新的下照式一体化设计，

2、测试快速，无需样品制备

3、可通过内置高清 CCD 摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触， 污染或破坏被测物。软件配备距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，螺纹，曲面 等）的异型件的精准测试

4、备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

5、可覆盖元素周期表 Mg镁到 U 铀

6、Si-pin 检测器，具有高计数范围和出色的能量分辨率

7、自动切换准直器和滤光片（0.15mm,0.2mm,0.3mm）。

公司简介

苏州英飞思科学仪器有限公司专注于XRF光谱仪及配套设备的研发、生产和应用。基于多年的技术积累和沉淀，英飞思拥有整套XRF光谱仪的原生态软件研发和硬件制造技术，不仅能提供整套光谱仪定制服务，而且能够提供全方位专业而系统的元素成分分析及镀层测厚的解决方案，以满足客户日益严苛而高标准的测试需求。